激光粒度分析仪Topsizer Plus介绍

激光粒度分析仪Topsizer Plus 是继广受赞誉的Topsizer 后，作为公司推出的又一款高端粒度分析仪器。该仪器引入了国ji先进的光学设计，采用全球化的供应链体系，使激光衍射法的测试范围达0.01-3600um，代表了当前国产激光粒度仪的*gao技术水平。Topsizer Plus保持了Topsizer量程宽、重复性好、分辨力高、真实测试性能强和智能化程度高等优点，通过进一步提升光学设计、硬件和反演算法，拓展了其测试范围以及实际测试性能，应用遍及化工、机械、建材、能源、医药等现代工业的各个领域。

在锂离子电池、制药、水文和精细化工等诸多行业，很多用户选择公司激光粒度仪，尤其是Topsizer型号，除了对公司品牌和技术的信赖外，还因为其测试结果准确。不管是制药用的原材料、制剂还是锂离子电池正负极材料等，Topsizer系列产品保证了测试结果和分析能力与国内外、行业上下游黄金标准保持一致，这不仅为用户节省了方法开发和方法转移上的时间和成本，更重要的是可避免粒径检测不准带来的经济损失和风险，无论在研发、过程控制还是质量控制上，都能够为用户带来真正的价值。

一、技术指标

1.测量范围：0.01-3600μm（取决于样品）

2.测量原理：全量程米氏散射理论

3.重复性误差：≤0.5%（取决于样品）

4.准确性误差：≤±0.6%（取决于样品）

5.测量速度：常规测量10秒内完成

6.进样方式：

湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；

干法自动化测试*，进样器分散工作压力0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度0-100% 无级连续可调。（*配DPF-110时）。

7.光路系统：

双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；

仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；

采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠；

单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；

探测器自动对中。

8.检测器：

探测通道数103个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，**探测角140度，*小探测角0.016度，无盲区。

9.软件功能：

丰富的自定义报表功能，方便用户灵活的获取数据和定义报表样式；

软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；

具备SOP标准操作流程功能；

多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；

有导航功能的清晰、明了的流程界面；

具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；

每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；

多种方式的测量数据导出，方便数据交流；

完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；

体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。

提供符合GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。

10.外观尺寸：

主机：1330×266×380 mm

循环进样器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B）

干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）

二、工作原理：

一束平行光在传播过程中遇到障碍物颗粒，光波会发生散射（衍射）偏转，偏转的角度跟颗粒的大小相关，散射（衍射）现象可以通过 “Mie散射理论 ”来描述。颗粒粒径越大，光波偏转的角度越小；颗粒粒径越小，光波偏转角度越大。激光粒度分析仪就是利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。

公司结合了源自国内外的先进技术，通过对光学、算法、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使公司激光粒度仪具备重复性良好、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。

三、先进的光学系统

双光源技术

Topsizer Plus激光粒度分析仪采用双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm；并有半导体蓝光辅助光源，波长0.466μm，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。在国产激光粒度分析仪中，红蓝双色光源技术为公司独jia采用。

进口高性能氦氖激光器及电源

采用以长寿命，低噪声，高稳定性著称的进口**品牌氦氖激光器及配套激光电源，为仪器提供近乎**光学质量的偏振光源。在气体激光器本身带来的稳定波长基础上，Topsizer Plus激光粒度分析仪采用的高性能光源系统同时具备功率稳定， 预热时间短， 偏振比高而稳定，模式纯度高等高性能激光粒度仪必须的光学特性。确保仪器在不同工作环境下都能保持稳定工作，并带来无需标定的准确性性能。

直线光路设计

Topsizer Plus激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。

后傅立叶变换单镜头设计

单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光**接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射面减到*少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至极低水平，提高了仪器测量时的信噪比。

长焦距的傅里叶透镜

Topsizer Plus激光粒度分析仪选用具有较长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达3600μm。

合理分布、高感光度的进口光电探测器

Topsizer Plus激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达103个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，**探测角大于140度，*小探测角0.016度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。

智能自动对中

智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。自动对中在几十秒内即可完成，既可作为自动测量的一部分，亦可在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重复性。

出色的分散系统

湿法进样系统：标配SCF-108循环进样器，采用先进的循环回路设计，大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，具有高效率的分散、清洗、排干能力。内置**功率100W超声探头，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。

可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均无极连续可调。

根据需要可选择更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。

干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机

构设计，可适应于各种样品测试对分散强度的要求。内置分散压传感器和负压传感

器，测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。

四、功能强大的分析软件

丰富的自定义报表功能，方便用户灵活的获取数据和定制报表样式。

用户可以灵活定义报告的标题、Logo，选择在报告中显示的模块，并对这些模块进行设置。如可调整行数、列数，坐标轴范围，报告内容和参数等均可根据需要设定。

软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化。流程界面清晰明了，拥有导航功能。

仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。

具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化。

SOP测量程序编辑及运行：

多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要。体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。可根据用户需要设置指定的粒径段。

完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数。

多种方式的测量数据导出，方便数据交流。

具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能

五、**的仪器性能

Topsizer Plus对于Topsizer的升级中的一个重要特点是保留了在 0.02-2000um段数据与 Topsizer一致。通过光路、硬件和算法的升级进一步提升了测试范围至0.01-3600um。

宽广的测量范围

与市场上其他使用不同技术通过拼接的方案提高测试范围不同，Topsizer Plus的实测范围为0.01-3600um，使用静态光散射一种技术实现从亚微米颗粒到毫米级颗粒的检测，严格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的国标要求，并能满足不同粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。

宽分布样品

对大颗粒具有强大测试能力

7-14目玻璃微珠

对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力

100nm latex

杰出的分辨能力

Topsizer Plus能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。图中的混合物样品为5.1um/14um/37.8um标样按比例配置。

良好的重复性

Topsizer Plus采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。

良好的再现性

不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。

快速的测试速度

Topsizer Plus优秀快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。

超高灵敏度

多达103个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，**探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。

超强适应性

可选具有极强分散能力分散系统，即使对于超大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而*da程度满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。

六、技术指标

1.测量范围：0.01-3600μm（湿法，取决于样品），0.1-3600μm（干法，取决于样品）

2.测量原理：全量程米氏散射理论

3.重复性误差：≤0.5%（取决于样品）

4.准确性误差：≤±0.6%（取决于样品）

5.测量速度：常规测量10秒内完成

6.进样方式：

湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；

干法自动化测试*，进样器分散工作压力0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度0-100% 无级连续可调。（*配DPF-110时）。

7.光路系统：

双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；

仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；

采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠；

单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；

探测器自动对中。

8.检测器：

探测通道数103个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，**探测角140度，*小探测角0.016度，无盲区。

9.软件功能：

丰富的自定义报表功能，方便用户灵活的获取数据和定义报表样式；

软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；

具备SOP标准操作流程功能；

多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；

有导航功能的清晰、明了的流程界面；

具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；

每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；

多种方式的测量数据导出，方便数据交流；

完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；

体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。

提供符合GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。

10.外观尺寸：

主机：1330×266×380 mm

循环进样器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B）

干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）