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德国柯雷R700型多探头核辐射仪
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英国杰普超声波液位计/液位差计innoLev 200
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斯达沃超低量程浊度分析仪TurbiTechw2 LR
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英国杰普在线流通式浊度分析PACON 2000
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产品系列
微电泳仪(zeta电位仪)JS94系列介绍
微电泳仪(Zeta电位仪)JS94系列可用于测定分散体系颗粒物的固-液界面电性(ζ电位),也可用于测量乳状液液滴的界面电性,也可用于测定等电点、研究界面反应过程的机理。通过测定颗粒的Zeta电位,求出等电点,是认识颗粒表面电性的重要方法,在颗粒表面处理中也是重要的手段。与国内外其它同类型仪器相比,它具有显著的优越性。可广泛应用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋化学等行业,也是化学、化工、医学、建材等专业的重要教学仪器之一。
首部《胶体颗粒zeta电位分析 电泳法通则》国家标准发布,标准号:GB/T 32668-2016,该国家标准于2016年11月1日起实施。
型号 | 适用体系 | 主要粒径范围 (微米) | 显微光学系统 | 分辨率 |
JS94H | 水性体系 | 0.5~20 | 高倍显微光学系统 | 4pixel/μm |
JS94H2 | 水性体系和有机体系 | 0.5~20 | 高倍显微光学系统 | 4pixel/μm |
JS94J | 水性体系 | 0.1~10 | 日本WKD 高倍显微光学系统 | 12pixel/μm |
JS94J2 | 水性体系和有机体系 | 0.1~10 | 日本WKD 高倍显微光学系统 | 12pixel/μm |
JS94K | 水性体系 | 0.2~50 | 日本连续变倍光学系统,适用于更宽范围颗粒的测量 | 8pixel/μm |
JS94K2 | 水性体系和有机体系 | 0.2~50 | 日本连续变倍光学系统,适用于更宽范围颗粒的测量 | 8pixel/μm |
JS94系列微电泳仪(Zeta电位仪)共性参数
1、功耗:<150W
2、电源输入电压:220V 50Hz
3、适用环境:防震平台
4、适用温度范围:室温到35℃,读取精度0.1
5、测数准确度:系统误差在5%以内
6、pH范围:一般应用在下2.0~12.0,亦可在1.6~13.0范围内使用
7、工作距离7mm
8、杯型开放式电泳装置,配套特制电极支架
JS94系列微电泳仪(Zeta电位仪)功能特点
1. 仪器采用新设计的新型简便的电泳池,采用0.5cm 厚的玻璃杯,电极内置在池内。电泳杯与内置电极经精密的微流场计算、表面处理,组成一套与传统的电泳池完全不一样电泳装置。测试时样品用量极少,每次仅 0.5ml,易于清洗,使用方便,经济实用。
2. 采用经过精心设计的电极支架,与电泳杯紧密配合,形成一个杯形开放式电泳装置,电极采用银、铂和钛金属丝制成,经表面处理后工作状态稳定。
3. 制作精良的十字标,置入电泳杯后放在三维平台上,调整三维平台,在计算机屏幕看到清晰的十字图像,便找到测定位置,没有静止层问题。
4. 该电泳仪采用半导体发光近场光学系统,功率仅几十微瓦,不会因发热而影响测量环境和测量精度,并调整了光学系统 ,加大了放大倍率 ,采用波长较短的蓝光和绿光,因此可以看清更小的颗粒。
5. 采用恒压低频转换电源, 可以防止极化,同时又可大大提高测量速度。正负换向时间为0.30秒至1.20秒连续可调,采样时间仅需 3~10秒。电极间电压可根据需要调节。
6. 采用温度采样探头, 自动连续对环境温度进行采样, 返回计算机,自动调整参数,用于计算Zeta电位。采用计算机多媒体技术, 在给定的节拍下, 自动对经放大1200倍的超细颗粒连续“拍照”,提供双向共四幅灰度图像进行分析计算。
视频法测量zeta电位和激光衍射法测量zeta电位的优缺点
如果需要比较视频法测量zeta电位和激光衍射法测量zeta电位的优缺点,参见表2及《精确和准确——关于zeta电位两种测量方法的讨论》。
国内外微电泳仪(zeta电位仪)对比表(表2) | ||
Zeta 电位 | JS94系列 | 进口(一般为激光衍射法) |
测量 方法 | 采用视频测量技术,全部分析过程均是“所见即所得”,所以数据一定是准确的,想做错都难,是实测值。 | 一般采用激光衍射测量技术,“在ISO13320国际标准中,特别提出如果颗粒粒径小于几十微米,需采用米氏理论,输入正确的样品折射率和吸收率以便能获得更为准确的结果”。由此可见该类仪器测量的zeta电位是需要在正确的折射率和吸收率等参数支持下才能得出的计算值。 |
测量 对象 | 是测量zeta电位*准确的仪器,没有之一。但受其测量方法限制,只能逐个观察带电颗粒形状和粒径,无法生成整个分散体系的粒径分布直方图。 | 是测量整个分散体系中粒径分布直方图zui好的仪器,但其附带的测量zeta电位功能只具有参考意义。 |
适用 范围 | 由于无需测量整个体系的粒径分布,只需截取部分部分不沉降的带电颗粒来表征整个分散体系中带电颗粒的zeta电位,因此被测样品只需有部分带电颗粒的粒径在0.1~50微米之间即可。 | “当颗粒小到几百纳米时,其衍射光强对于角度几乎完全失去依赖性”。 |
样品 准备 | 样品无需预处理,即便极端情况(比如浓稠不透光样品)仅需稀释即可。 | 不少样品需要按照操作手册做预处理,并事先测量该样品正确的折射率和吸收率数据,输入操作软件以便得到zeta电位的计算值。 |